【標 題】：微量元素檢測儀的測量原理
【作者單位】：山東濟寧東盛電子儀器有限公司
【內(nèi)容摘要】： 1.極譜法： 在被測物質(zhì)的溶液內(nèi)，加以線性電壓掃描，利用檢測到的被測物質(zhì)的峰電流，根據(jù)lp=KC（lp為峰電流，K為常數(shù)，C）為待測物質(zhì)濃度）進行定量分析。此法于1922年首創(chuàng)，捷克著名化學(xué)家J.Heyrovsky由于此理論獲得諾貝爾化學(xué)獎。 2.電位溶出法： 在被測物質(zhì)中，首先進行恒電勢富集，將被測物質(zhì)富集到工作電極上，然后斷開恒電勢富集，利用體系內(nèi)的氧化劑將富集在工作電極上的被測物質(zhì)氧化溶解至溶液中，同時記錄溶出過程曲線（dt/dE-E曲線），根據(jù)H=KC（H為峰高）進行定量分析。此理論于1976年由瑞典化學(xué)家D.Jagner發(fā)明。
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1.極譜法： 在被測物質(zhì)的溶液內(nèi)，加以線性電壓掃描，利用檢測到的被測物質(zhì)的峰電流，根據(jù)lp=KC（lp為峰電流，K為常數(shù)，C）為待測物質(zhì)濃度）進行定量分析。此法于1922年首創(chuàng)，捷克著名化學(xué)家J.Heyrovsky由于此理論獲得諾貝爾化學(xué)獎。 2.電位溶出法： 在被測物質(zhì)中，首先進行恒電勢富集，將被測物質(zhì)富集到工作電極上，然后斷開恒電勢富集，利用體系內(nèi)的氧化劑將富集在工作電極上的被測物質(zhì)氧化溶解至溶液中，同時記錄溶出過程曲線（dt/dE-E曲線），根據(jù)H=KC（H為峰高）進行定量分析。此理論于1976年由瑞典化學(xué)家D.Jagner發(fā)明。
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極譜儀，極譜分析儀
